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Seiko精工鍍層標準片Ti/XX

日本Seiko精工鍍層標準片Ti/XX

日本Seiko精工X射線測厚儀鍍層標準片適用于費希爾Fischer、宏德Roentgenanalytik、牛津Oxford、CMI、布魯克Burker、熱電Thermo、Veeco、微先鋒Micro Pioneer、精工Seiko、島津、電測、博曼BOWMAN、納優、天瑞、華唯等各廠牌X-ray(X射線測厚儀)的建檔、校準和校驗。

X射線測厚儀鍍層標準片的特色:標準片NIST、A2LA校正認證,質量精良,精度高、穩定性好;

X射線測厚儀鍍層標準片一般分為單鍍層片,雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學鍍層片。例如:單鍍層:Ag/xx,雙鍍層:Au/Ni/xx, 三鍍層:

Au/Pd/Ni/xx,合金鍍層:Sn-Pb/xx, 化學鍍層:Ni-P/xx。(所有標準片都附有NIST證書,具有權威性)

日本Seiko精工公司是專業生產X射線熒光金屬鍍層測厚儀及膜厚標準片的企業,以及對標準片進行重新鑒定,其所有證書都是符合NIST(National

Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院)標準或ANSI(American National Standards Institute美國國家標準學會)標準。

X射線測厚儀鍍層標準片又叫膜厚儀校準片或者薄膜片,專業用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的儀器標準化校準及建立測量分析檔案。


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